技術内容 ●ダマシン法:反応性イオンエッチング(RIE)などで予め基板に設けた溝にスパッタ法やウェット法により導電性下地層を形成し、これにCuめっきを施し、研磨により余剰部分を除去。 ●セミアディテブィブ法:予め下地層を成膜した基板にレジストで溝形状を形成し、溝内のみにCuめっきを形成した後、レジストと露出した下地層を除去し、最後に化学的気相成長法(CVD)などでCu導体間に絶縁材料を充填成膜。 ●リフトオフ法:基板にレジストで溝形状を形成し、スパッタ法などで全面にCu層を成膜した後、アセトンなどの有機溶剤でレジストとその上のCu層を除去し、最後にレジスト等の有機材料を塗布して導体間の絶縁層を形成する。

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